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ZEISS METROTOM
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商品說明
商品參數
基于 ZEISS METROTOM 的工業計算機斷層掃描（CT）利用蔡司的工業計算機斷層掃描系統，一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗。標準的驗收檢測、精密工程的校準程序可確保系統的追蹤性。配備線性導軌及轉臺，滿足客戶對精度的高要求。 ZEISS METROTOM 利用 ZEISS METROTOM 輕松完成測量任務輕金屬部件的測量檢驗 測量與檢驗整體部件ZEISS METROTOM 是一種用于測量和檢驗塑料或輕金屬部件的工業計算機斷層掃描測量系統。 而在利用傳統測量機測量時，此類隱藏性的結構信息只有將零件通過費時的層層破壞方能獲得。 連接器的測量 輕松地進行多樣化特征檢測利用 ZEISS METROTOM 計算機斷層掃描系統可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結果精度，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同，ZEISS METROTOM 獲取海量測量點時，時間顯著縮短。 |
